测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
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新闻资讯
News时间：08-11 2023 来自：祥宇精密
在制造行业，三坐标测量仪是一种高精度的测量设备，用于测量各种工件和零件的尺寸、形状和位置精度。由于长时间使用和各种因素的影响，三坐标测量仪的精度会逐渐降低，因此需要进行校准。本文将介绍常见的三坐标测量仪校准方法。
一、常规校准方法
测针校准
测针校准是三坐标测量仪校准的一种常见方法，通过使用标准球进行测针的校准，以确定测针的直径和形状误差，保证测量的精度。
测头校准
测头校准是通过使用标准球进行测头的校准，以确定测头的直径和形状误差，保证测量的精度。
位置校准
位置校准是通过对三坐标测量仪的三个轴的移动进行校准，以保证其移动的精度和重复性。
二、先进校准方法
光学校准
光学校准是利用光学干涉仪对三坐标测量仪的测头进行校准，可以获得更高的校准精度。
热校准
由于三坐标测量仪在使用过程中会受到温度的影响，因此需要进行热校准。热校准是通过使用标准温度计和热膨胀系数计对三坐标测量仪进行校准，以保证其在不同温度下的测量精度。
空气校准
空气校准是通过对三坐标测量仪的空气轴承进行校准，以消除其空气误差和温度误差，提高测量的精度。
总之，三坐标测量仪的校准是保证其测量精度的重要步骤。在进行校准时，需要根据具体的设备和要求选择合适的校准方法，以达到最佳的校准效果。同时，定期的校准也可以延长三坐标测量仪的使用寿命，提高其使用效率。
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